Wafer-Sonde behandelt Knoten von 45 nm und darunter

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Anonim

Die Elite 300-Wafersonde bietet 300-mm-Wafer-Messgenauigkeit und Zuverlässigkeit für Geräte mit Prozessknoten bei 45 nm und darunter. Es wurde entwickelt, um die kritischen messtechnischen Herausforderungen an jedem fortschrittlichen Technologieknoten zu lösen, indem modernste elektrische und mechanische Technologie, fortschrittliche Materialien und modernste Messtechniken integriert werden.

Die Elite 300-Anwendungen umfassen die Charakterisierung und Modellierung von HF / DC-Bauelementen, Zuverlässigkeit auf Wafer-Ebene, IC-Fehleranalyse und Design-Debugging. (Von $ 80.000 bis $ 400.000 12 Wochen ARO.)

Cascade Microtech, Beaverton, oder
Cali Sartor 503-601-1000

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